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贵金属检测仪
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TB28-x-3000是一种体现X射线荧光分析技术进展的能量色散X射线荧光光谱仪。它采用小型X光管为激发源，电制冷硅半导体探测器为探测单元，再加上我公司专门开发的应用软件，充分发挥各部件的优异性能，了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方，正是它大有作为之处。下面将该仪器的资料作简单介绍。
整机技术规格
1．激发源：本机采用 X 射线管（W靶），高电压可达50KV，大电流1mA
2．高压电源：大50W，50KV，1mA
3．探测器：电制冷 Si PIN半导体探测器（55Fe的能量为5.9Kev的MnKα线，分辨率优于149eV）
4．多道分析器：2048道
5．软件：基于WINDOWS的强大工作软件。定量分析包括：经验系数法，理论a系数法和基本参数法。定性分析包括：KL线标记，谱图比较和光标寻峰等。客户可进行二次开发，自行开发任意多个分析方法。
6．电源：交流220V 50Hz
7．体积：520mm x 600mm x 270mm
8．重量：约 42kg （主机）
整机技术性能
1．测量元素范围宽：从铝（13）至铀（92）都可测量
2．可测量含量范围，从ppm至
3．测量速度快，通常为几十秒到几分钟
4．多元素同时定性定量
5．蜂位漂移：八小时小于1%
进口探测器的性能指标
1．探测器类型：电制冷Si-PIN
2．探测面积：2.4x2.8mm（7mm2）
3．硅活化区厚度：300um
4．探测器分辨率： 对于55Fe，@5.9keV 对于12us的形成时间，半高宽为149Ev
5．探测器窗口：铍窗，25um厚
进口高压电源规格
1．电压和电流从零至满量程连续可调，大50KV，1mA
2．电压调整率：
负载调整率：从空载到满载，电压变化为满量程的 0.01 %
线性调整率：对于规定的输入电压范围，该数值为满量程的0.01%
3．电流调整率：
负载调整率：从空载到满载，电流变化为满量程0.01%
线性调整率：对于规定的输入电流范围，该数值为满量程的0.01%
4．稳定性：经过半小时预热后，每8小时变化不0.05%
5．温度系数：温度变化一度，电压变化不过0.01%
