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（）激光平面干涉仪库号：M107501
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产品型号：
 型号:60-LP
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 （）激光平面干涉仪库号：M107501紧凑结构、小型化、防尘效果好
批量检测平面光学元件表面面型测量。
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(）激光平面干涉仪库号：M107501(）激光平面干涉仪库号：M107501(）激光平面干涉仪库号：M107501

激光平面干涉仪 型号:60-LP

库号：M107501   查看hh

紧凑结构、小型化、防尘效果好
批量检测平面光学元件表面面型测量。
大测量口径：Φ60mm
测量方式：菲索干涉原理
光源：半导体激光器(635nm)
对准方式：简单两点对准
标准参照镜面形精度：p-v：λ/20

激光平面干涉仪 型号:60-LP

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紧凑结构、小型化、防尘效果好
批量检测平面光学元件表面面型测量。
大测量口径：Φ60mm
测量方式：菲索干涉原理
光源：半导体激光器(635nm)
对准方式：简单两点对准
标准参照镜面形精度：p-v：λ/20

激光平面干涉仪 型号:60-LP

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紧凑结构、小型化、防尘效果好
批量检测平面光学元件表面面型测量。
大测量口径：Φ60mm
测量方式：菲索干涉原理
光源：半导体激光器(635nm)
对准方式：简单两点对准
标准参照镜面形精度：p-v：λ/20

激光平面干涉仪 型号:60-LP

库号：M107501   查看hh

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批量检测平面光学元件表面面型测量。
大测量口径：Φ60mm
测量方式：菲索干涉原理
光源：半导体激光器(635nm)
对准方式：简单两点对准
标准参照镜面形精度：p-v：λ/20

 

 

 
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