产品特点：
1．工作原理：
ICT33C+集成电路测试仪是以器件预期响应法为指导思想，以单片机智能化为结构的多功能
测试仪器。它以MCS51单片机为核，配合大规模软件和外围扩展系统来模拟被测器件
的综合功能。仪器的设计基础立足于这样的原则：在数字集成电路众多参数中，逻辑功能
是重要，根本，能说明问题的参数。 2．系统主要构成：
（1） CPU：MCS51系列产品89C52；主频：11.059M。
（2） 程序存储器：128K EPROM。
（3） RAM缓冲区：128K静态RAM。
（4） 显示器：8位液晶显示器。
（5） 操作键盘：20位轻触式按键键盘。
（6） 输出：七只LED+八位液晶显示+声音提示。
（7） 机箱：塑结构机箱。

技术规格：
（1）电源电压：AC220V±15%，50HZ。
（2）整机功耗：15VA。
（3）测试电压：3.3V，5.0V，9.0，15V。
（4）编程电压：12.5V，21V。
（5）大测试脚数：DIP封装40脚；SOP封装20脚（须另购适配器）。
（6）型号输入位数：3—6位。
（7）适用温度：0—40℃。
（8）测试规范：输入短路测试；输出短路测试；功能测试。
（9）输出高电平VOH：大于2.8V（VT=5.0V）。
（10）输出低电平VOL：小于0.7V（VT=5.0V）。
（11）输入高电平VIH：大于4.5V（VT=5.0V）。
（12）输入低电平VIL：小于0.2V（VT=5.0V）。