UV-B型紫外辐照计采用SMT贴片技术，选用低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过严格的光谱及角度特性校正，性能稳定，适用性强。适用于光化学、高分子材料老化、紫外光源、以及大规模集成电路光刻等领域的紫外辐照度测量工作。
特点
光谱及角度特性经严格校正
数字液晶显示，带背光
手动/自动量程切换
数字输出接口（USB,冗余供电）
低电量提醒
自动延时关机
有数字保持
轻触按键操作，蜂鸣提示

技术参数
波长范围λ1，峰值波长λp：（230～275）nm，λP＝254nm （用户二选一）
波长范围λ2，峰值波长λp：（275～330）nm，λP＝297nm
辐照度测量范围：(0.1～199.9×103) μW/cm2
紫外带外区杂光：UV254<0.1%，UV297<0.05%
相对示值误差：±8％（相对于NIM标准）
角度响应特性：±5% （α≤10°）
线性误差：±1%
换档误差：±1%
短期不稳定性：±1%（开机30min后）
疲劳特性：衰减量<2%
零值误差：满量程的±1%
响应时间：<1秒
使用环境：温度(0~40)℃；湿度＜85％RH
尺寸和重量：160mm×78mm×43mm；0.2kg
电源：6F22型9V积层电池（非充电电池）
整机功耗：＜0.1VA