紫外/可见光照度计采用 SMT 贴片技术，选用高
精度低功耗数字芯片，仪器外壳为流线型设计，探测器经过光谱及角度特性校正，性能稳定。仪器集
紫外辐照度测量和照度测量两种功能于一体，应用于光化学、高分子材料老化、探伤、紫外光源、植物栽培、以及大规模集成电路工业、农业、建筑、环境、科研等各个领域。

特点
* 光谱及角度特性经严格校正
* 数字液晶显示，带背光
* 手动/自动量程切换
* 数字输出接口（USB,冗余供电）
* 低电量提醒
* 自动延丨时关机
* 有数字保持
* 轻触按键操作，蜂鸣提示

主要技术指标
照度：计量性能符合《JJG 245-2005 光照度计
计量检定规程》一及标准。
* 测量范围：(0.1～ 200000) lx
* 相对示值误差：±4%
* V(λ)匹配误差：6%
* 余弦特性（方向性响应）误差：4%
* 线性误差：±1%
* 换档误差：±1%
* 疲丨劳误差：-0.5%
* 温度系数( % / ℃ )：±0.5
* 响应时间： 1 秒

紫外辐照度：计量性能符合《JJG 879-2015 紫外辐射照度计计量检定规程》一及标准。
* 波长范围及峰值波长：
λ：(315～400) nm；λp = 365 nm
* 辐照度测量范围：(0.1～200000) W/cm2
* 相对示值误差：±8%
* 余弦特性(方向性响应)误差：10%
* 线性误差：±1.5%
* 换档误差：±1%
* 短期不稳定性：±1%（开机 30min 后）
* 疲丨劳误差：3%
* 零值误差（满量程 FS）：±1%
* 响应时间：1 秒
* 使用环境： 温度(0～40)℃，湿度＜85%RH
尺寸和重量：160mm×78mm×43mm；0.2kg